半导体检测设备深度报告:大道至“检”,“测”助功成

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摘要:

证监会审核华创证券投资咨询业务资格批文号:证监许可(2009)1210号未经许可,禁止转载证券研究报告半导体检测设备深度报告推荐(维持)大道至“检”,“测”助功成主要观点半导体检测是提高产线良率、提高竞争实力的关键半导体检测贯穿于产品生产制造流程始终,产品小组通过分析检测数据确保产品工艺参数符合设计需求,并用以确定问题来源,及时采取修正措施,从而达到减少缺陷、提升产线良率的目的。良率的提升直接影响厂商的生产成本和订单获取能力,半导体检测虽不直接参与生产,却是厂商市场竞争能力的关键影响因素。前道量检测监控工艺流程,后道检测确保产品质量检测工艺根据所处的环节主要有前道量检测和后道检测两类。前道...

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